简要描述：纳米粒度及Zeta电位仪通过激光器发射光束照射纳米颗粒，颗粒的布朗运动导致散射光强度随时间波动。检测器（如雪崩光电二极管）采集90°散射光信号，通过自相关函数分析光强波动频率，推导出颗粒的扩散系数，再根据斯托克斯-爱因斯坦方程计算粒径分布。

纳米粒度及Zeta电位仪通过激光器发射光束照射纳米颗粒，颗粒的布朗运动导致散射光强度随时间波动。检测器（如雪崩光电二极管）采集90°散射光信号，通过自相关函数分析光强波动频率，推导出颗粒的扩散系数，再根据斯托克斯-爱因斯坦方程计算粒径分布：

$d=\frac{kT}{3\pi \eta D}$d=3πηDkT
其中，$d$d为粒径，$k$k为玻尔兹曼常数，$T$T为温度，$\eta$η为溶液黏度，$D$D为扩散系数

• 部分仪器结合SLS技术，通过测量不同角度的散射光强度，进一步验证颗粒尺寸及分子质量。

二、Zeta电位测量原理

• 纳米粒度及Zeta电位仪在电场作用下，带电颗粒发生电泳迁移。仪器通过检测颗粒的迁移速度（通常利用12°检测器采集散射光信号），结合相位分析光散射技术（PALS）计算电泳迁移率，再通过亨利方程转换为Zeta电位。




$\zeta =\frac{\mu \eta }{\epsilon \cdot f(}$$\frac{}{}$$\frac{\kappa a)}{}$ζ=ε⋅f(κa)μη
其中，$\zeta$ζ为Zeta电位，$\mu$μ为电泳迁移率，$\epsilon$ε为介电常数，$f(\kappa a)$f(κa)为亨利函数（与颗粒形状和双电层厚度相关）。

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• Zeta电位反映颗粒表面剪切面的电势差，其数值与胶体稳定性直接相关：绝对值越高，体系越稳定。

• 纳米粒度分析仪是一种用于测量颗粒尺寸和分布的仪器，通常使用光学显微镜或电子显微镜进行图像采集，再通过专门的软件进行分析。

• 2. 使用步骤

• 1）将样品放入分析仪中，并设置所需的参数。

• 2）进行图像采集，获取样品的颗粒图像。

• 3）利用软件进行粒度分析，测量颗粒的大小、形状、分布等参数。